A+醫(yī)學(xué)百科 >> 糖耐量異常

糖耐量異常包括空腹血糖受損（IFG）、糖耐量減低（IGT），是介于正常糖耐量及糖尿病之間的一種中間狀態(tài)。

　　糖耐量減低(IGT)是由正常血糖向糖尿病過渡的異常糖代謝階段，主要表現(xiàn)為餐后血糖升高。診斷標(biāo)準(zhǔn)為：空腹血糖<6.1毫摩爾/升，口服葡萄糖耐量試驗(yàn)(OGTT)2小時(shí)后血漿血糖值處于7.8～11.1毫摩爾/升之間，稱為IGT。空腹血糖受損（IFG）是指空腹血糖6.1～7.O毫摩爾/升，口服葡萄糖耐量試驗(yàn)（OGTT）2小時(shí)血糖＜7.8豪摩爾/升。二者皆有則統(tǒng)稱為糖調(diào)節(jié)受損（IGR）。目前認(rèn)為，幾乎所有糖尿病患者都要經(jīng)歷IFG和IGT階段，故又稱為糖尿病前期-糖耐量異常階段。若病情進(jìn)展，空腹血糖＞7.0毫摩爾/升，餐后血糖>11.1毫摩爾/升時(shí)，即進(jìn)入糖尿病（DM）階段。

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